发明名称 Forming method of photoresist pattern improving etching resistance by RELACS material
摘要
申请公布号 KR100843888(B1) 申请公布日期 2008.07.03
申请号 KR20010079350 申请日期 2001.12.14
申请人 发明人
分类号 H01L21/027 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
地址