发明名称 |
一种在嵌入式系统中测试内存的方法 |
摘要 |
本发明涉及嵌入式系统工装测试中的内存测试技术。本发明所要解决的技术问题是,为降低测试成本,提供一种能对内存进行全面测试的软件控制内存测试的方法。所采用的技术方案是,一种在嵌入式系统中测试内存的方法,包括以下步骤:a.在参数寄存器中设置内存测试标志;b.处理器在ROM中运行基本硬件初始化程序时,判断是否有内存测试标志;若是,进入步骤c;若否,处理器跳转到内存中运行系统初始化程序;c.处理器在ROM中运行内存测试程序对内存进行全面测试;d.测试完毕,保存测试结果;e.应用程序在内存启动,将测试结果输出到用户界面。本发明的有益效果是,不需要硬件提供任何信息,简化了硬件设计和硬件成本。 |
申请公布号 |
CN101211291A |
申请公布日期 |
2008.07.02 |
申请号 |
CN200610022731.1 |
申请日期 |
2006.12.31 |
申请人 |
迈普(四川)通信技术有限公司 |
发明人 |
何三波 |
分类号 |
G06F11/22(2006.01) |
主分类号 |
G06F11/22(2006.01) |
代理机构 |
成都虹桥专利事务所 |
代理人 |
李顺德 |
主权项 |
1.一种在嵌入式系统中测试内存的方法,其特征在于,包括以下步骤:a、在参数寄存器中设置内存测试标志;b、处理器在ROM中运行基本硬件初始化程序时,判断是否有内存测试标志;若是,进入步骤c;若否,处理器跳转到内存中运行系统初始化程序;c、处理器在ROM中运行内存测试程序对内存进行全面测试;d、测试完毕,保存测试结果;e、应用程序在内存启动,将测试结果输出到用户界面。 |
地址 |
610041四川省成都市高新区九兴大道16号迈普大厦 |