发明名称 自动扫描射频的测试方法
摘要 本发明一种自动扫描射频的测试方法,包含下列各步骤:a)提供一具有自动扫描功能的受测装置(device under test;DUT),以及一测试系统,其是依照一程序逐次使用不同的射频(radios frequency;RF)为载波而发射一测试信号;b)启动受测装置的自动扫描功能,并启动测试系统以发射测试信号;c)当受测装置接收到测试信号,受测装置即输出一状态信号至测试系统;d)当测试系统接收到状态信号,测试系统即依程序切换至另一射频为载波,再次发射测试信号;e)测试系统以及受测装置会依序持续重复步骤c以及步骤d的行为,直至受测装置的射频自动扫描完毕。
申请公布号 CN101212260A 申请公布日期 2008.07.02
申请号 CN200610170350.8 申请日期 2006.12.29
申请人 环隆电气股份有限公司 发明人 蔡丁财
分类号 H04B17/00(2006.01);H04Q7/34(2006.01) 主分类号 H04B17/00(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 周国城
主权项 1.一种自动扫描射频的测试方法,其特征在于包含下列各步骤:a)提供一具有自动扫描功能的受测装置,以及一测试系统,其是依照一程序逐次使用不同的射频为载波而发射一测试信号;b)启动该受测装置的自动扫描功能,并启动该测试系统以发射该测试信号;c)当该受测装置接收到该测试信号,该受测装置即输出一状态信号至该测试系统;d)当该测试系统接收到该状态信号,该测试系统即依该程序切换至另一射频为载波,再次发射该测试信号;以及e)该测试系统以及该受测装置会依序持续重复步骤c以及步骤d的行为,直至该受测装置的射频自动扫描完毕。
地址 台湾省南投县