发明名称 内建光源的光传感器检测装置及具该装置的测试机台
摘要 本发明公开了一种内建光源的光传感器检测装置,其具有一基座及一设于该基座上的上盖,在该上盖设有至少一发光二极管,用以作为光源至一待测光传感器中以进行测试作业。本发明无需高压放电灯以及光处理装置等组件,即可大幅缩小检测装置的整体体积,亦可从而降低成本,并可加速检测速度而提升检测精度,减少更换光源的时间浪费。另外,本发明还公开了一种具有上内建光源的光传感器检测装置的测试机台。
申请公布号 CN101210951A 申请公布日期 2008.07.02
申请号 CN200610148092.3 申请日期 2006.12.27
申请人 中茂电子(深圳)有限公司 发明人 范光和;欧聪宪
分类号 G01R31/26(2006.01);G01R31/265(2006.01);G01M11/00(2006.01);G01M11/02(2006.01);H01L21/66(2006.01) 主分类号 G01R31/26(2006.01)
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人 丁纪铁
主权项 1.一种内建光源的光传感器检测装置,用于测试具有复数接脚的待测光传感器,其特征是,其包括:一基座,该基座具有一供置放并电连接该待测光传感器的承载部;一上盖,该上盖设于该基座上方,并可相对于该基座在一供置入/移出该待测光传感器的开启位置至一供将该待测光传感器迫紧电连接该承载部的闭合位置间移动,且该上盖内具有一发光方向被设置成面向该待测光传感器的发光二极管光源。
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