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发明名称 Semiconductor chip package and method of testing the same
摘要
申请公布号 KR100843208(B1) 申请公布日期 2008.07.02
申请号 KR20060107944 申请日期 2006.11.02
申请人 发明人
分类号 G01R31/3183;G01R31/28;G01R31/3187 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
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