发明名称 CMOS图像传感器及其制造方法
摘要 一种CMOS图像传感器及其制造方法,该CMOS图像传感器包括:外延层,形成在半导体衬底上方;栅电极,形成在外延层上方;栅极金属,形成在外延层的浮置扩散区上方;n+型源区和漏区,形成在外延层中;栅极间隔件,形成在栅电极和栅极金属的两侧壁上;绝缘夹层,形成在包括栅电极、栅极间隔件以及栅极金属层的外延层上方,绝缘夹层包括:第一接触孔,穿过绝缘夹层且暴露源区;第二接触孔,穿过绝缘夹层且暴露栅极金属;第一接触塞,形成在第一接触孔中并连接到源区;第二接触塞,形成在第二接触孔中并连接到栅极金属;以及金属线,形成在第一接触塞和第二接触塞上方,将源区电连接到栅极金属。本发明能够增加浮置扩散区(FD)的电容量。
申请公布号 CN101211952A 申请公布日期 2008.07.02
申请号 CN200710305924.2 申请日期 2007.12.28
申请人 东部高科股份有限公司 发明人 任劲赫
分类号 H01L27/146(2006.01);H01L23/522(2006.01);H01L21/822(2006.01);H01L21/768(2006.01) 主分类号 H01L27/146(2006.01)
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人 郑小军;郑特强
主权项 1.一种装置,包括:外延层,形成在半导体衬底上方;器件隔离层,形成在所述外延层中,用以限定有源区和器件隔离区,所述有源区包括光电二极管区和晶体管区;栅极绝缘层,形成在所述晶体管区的所述外延层上方;栅电极,形成在包括所述栅极绝缘层的所述晶体管区的所述外延层上方;栅极间隔件,形成在所述栅电极和所述栅极绝缘层的两个侧壁上;n+型源区和漏区,形成在与所述栅极间隔件的两侧邻近的所述外延层中;至少一个n+型岛区,形成在与所述光电二极管区邻近的所述外延层中;绝缘夹层,形成在包括所述栅电极和所述栅极间隔件的所述栅电极上方;第一接触孔,穿过所述绝缘夹层,并且暴露所述源区;第二接触孔,穿过所述绝缘夹层,并且暴露所述至少一个n+型岛区;第一接触塞,形成在所述第一接触孔中,并且连接到所述源区;第二接触塞,形成在所述第二接触孔中,并且连接到所述至少一个n+型岛区;以及金属线,形成在所述第一接触塞和第二接触塞上方,以将所述源区电连接到所述至少一个n+型岛区。
地址 韩国首尔