发明名称 制造具有闸极堆叠结构之半导体元件之方法
摘要 一种制造半导体元件之方法,包含:于基板上方形成第一导电层;于该第一导电层上方形成中间结构,该中间结构系成堆叠结构,包含至少第一金属层与含氮金属矽化物层;及于该中间结构上方形成第二导电层。
申请公布号 TW200828425 申请公布日期 2008.07.01
申请号 TW096146218 申请日期 2007.12.05
申请人 海力士半导体股份有限公司 发明人 林宽容;梁洪善;赵兴在;金兑京;金龙水;成敏圭
分类号 H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L21/28(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂;丁国隆
主权项
地址 韩国
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