发明名称 具防伪标记的记忆卡及其防伪方法
摘要 本发明系关于一种具防伪标记的记忆卡及其防伪方法,系以侵入性成型技术选择性地在记忆卡表面形成一防伪标记,该防伪标记系横跨于记忆卡封装体与其外露的基材上;由于记忆卡系选择性在记忆卡的不同位置上形成防伪标记,当内设记忆体、控制器等元件的基材遭不肖业者拆换调包时,因另行更换的基材无防伪标记,或其防伪标记的位置无法与封装体匹配,即可达到防伪识别之目的。
申请公布号 TWI298460 申请公布日期 2008.07.01
申请号 TW094130239 申请日期 2005.09.05
申请人 威刚科技股份有限公司;八达创新科技股份有限公司 发明人 庄品洋;刘明辉;黄文能
分类号 G06K19/00(2006.01) 主分类号 G06K19/00(2006.01)
代理机构 代理人 桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项 1.一种具防伪标记的记忆卡,系包括: 一封装体; 一基材,系结合于封装体内,其外侧面系露出于封 装体外; 至少一防伪标记,系形成于前述封装体与基材交界 处并横跨于封装体与基材上。 2.如申请专利范围第1项所述具防伪标记的记忆卡, 该防伪标记为文字或图案。 3.如申请专利范围第1或2项所述具防伪标记的记忆 卡,该防伪标记系选择性地位于封装体与基材交界 处的不同位置上。 4.如申请专利范围第1项所述具防伪标记的记忆卡, 该侵入性成型技术系指雷射雕刻技术。 5.一种记忆卡的防伪方法,系包括下列步骤: 令一记忆卡具有一封装体及一结合于封装体内的 基材,该基材底面系露出于封装体外; 在前述封装体与基材交界处以侵入性成型技术形 成一防伪标记,使该防伪标记横跨于封装体与基材 上。 6.如申请专利范围第5项所述记忆卡的防伪方法,该 防伪标记可为文字或图案。 7.如申请专利范围第5或6项所述记忆卡的防伪方法 ,该防伪标记系选择性地位于封装体与基材交界处 的不同位置上。 8.如申请专利范围第5或6项所述记忆卡的防伪方法 ,该侵入性成型技术系指雷射雕刻技术。 图式简单说明: 第一图:系本发明之外观图。 第二图:系本发明之局部放大外观图。 第三图:系本发明遭替换基材后之示意图。 第四图:系本发明在记忆卡不同位置形成防伪标记 之一外观图。 第五图:系本发明在记忆卡不同位置形成防伪标记 之一外观图。 第六图:系既有MMC记忆卡之分解图。 第七图:系既有MMC记忆卡之外观图。
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