发明名称 电子元件试验装置及电子元件之试验方法
摘要
申请公布号 TW200827726 申请公布日期 2008.07.01
申请号 TW096143670 申请日期 2007.11.19
申请人 阿德潘铁斯特股份有限公司 发明人 金子裕史;山下和之
分类号 G01R1/02(2006.01);B65G49/07(2006.01);G01R31/28(2006.01) 主分类号 G01R1/02(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本
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