半导体记忆体测试装置

摘要

本发明提供一种半导体记忆体测试装置,可缩短半导体记忆体之测试时间(不良分析时间)。依本发明之半导体记忆体测试装置,从失效记忆体传送失效资料至缓冲记忆体,其特征在于:设有失效计数器部,在传送失效资料至缓冲记忆体之同时,将每页总失效数加以计数。