发明名称 PROCEDIMIENTO Y APARATO PARA LA MEDICION DEL ESPESOR DE UNA CAPA DE OXIDO.
摘要 Procedimiento para la medición sin contacto y en tiempo real del espesor (e) de una capa de óxido depositada sobre un sustrato metálico, preferentemente una banda de acero en movimiento destinada a un tratamiento ulterior de galvanización con remojado en caliente, que utiliza una instalación que comprende una fuente de luz (1) que presenta un espectro esencialmente continuo y que forma, por medio de un primer medio óptico (2), preferentemente una lente, una pequeña mancha luminosa en la superficie (3) del sustrato, un obturador (4) posicionado entre la fuente de luz y el sustrato, un segundo medio óptico (5), preferentemente una lente, que forma la imagen de la superficie de dicha mancha sobre la ranura de entrada (6) de un espectrómetro óptico (7) sensible en una gama de longitudes de onda comprendida en el interior del espectro de la fuente de luz, y un pirómetro o un detector suplementario (8) exterior al espectrómetro (7), hacia el cual es dirigida la radiación intrínseca del sustrato revestido y sensible a por lo menos una longitud de onda situada fuera de la gama espectral del espectrómetro, caracterizado porque el espesor (e) de dicha capa de óxido es determinado a partir de la medición de temperaturas aparentes absolutas del sustrato revestido a por lo menos dos longitudes de onda, siendo dichas mediciones realizadas por medio del espectrómetro (7) que funciona en modo pirómetro y del pirómetro o detector suplementario (8), en el caso en que la radiación intrínseca S1(lambda) del sustrato revestido es detectable sin sobrepasar K veces (K>0) el valor de la señal reflejada S3 (lambda) en el conjunto de la gama espectral del espectrómetro (7), donde: - S1(lambda) es el espectro de la intensidad de la radiación intrínseca del sustrato revestido, medida en una primera etapa por medio de dicho espectrómetro (7), que funciona en el ejemplo en modo pirómetro, cerrando el obturador (4) en el camino óptico; - S2(lambda) es el espectro de intensidad del sustrato revestido medido en una segunda etapa por medio de dicho espectrómetro (7), que funciona en el ejemplo en modo pirómetro y reflexión, dejando dicho obturador (4) abierto; - S3(lambda) es a su vez obtenido sustrayendo el espectro S1(lambda) del espectro S2(lambda).
申请公布号 ES2302171(T3) 申请公布日期 2008.07.01
申请号 ES20050447208T 申请日期 2005.09.19
申请人 CENTRE DE RECHERCHES METALLURGIQUES 发明人 FRANSSEN, ROGER;SCHYNS, MARC;BORDIGNON, MICHEL
分类号 G01B11/06;G01J5/00 主分类号 G01B11/06
代理机构 代理人
主权项
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