| 摘要 |
Le domaine de l'invention est celui de la conception et de l'exploitation de systèmes électroniques soumis à un environnement radiatif ionisant d'origine naturelle ou artificielle. L'invention concerne un procédé de simulation de taux de panne d'un équipement électronique soumis à un rayonnement neutronique atmosphérique d'origine naturelle. A partir des paramètres de localisation géographique de l'équipement qui sont la longitude, la latitude et l'altitude et à partir de la connaissance de la largeur de grille des transistors constituant les composants électroniques de l'équipement, cette largeur étant représentative de la technologie employée, le procédé permet de déterminer le taux de panne prévisionnel de l'équipement dû à l'irradiation neutronique.
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