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发明名称
Method and apparatus for intelligently deactivating tests based on low failure history
摘要
Methods and apparatuses utilize test sequencing logic to bypass tests of a test program that provide statistically low test information.
申请公布号
US2008155329(A1)
申请公布日期
2008.06.26
申请号
US20060642501
申请日期
2006.12.20
申请人
KOLMAN ROBERT S
发明人
KOLMAN ROBERT S.
分类号
G06F11/00
主分类号
G06F11/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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