发明名称 Method and apparatus for intelligently deactivating tests based on low failure history
摘要 Methods and apparatuses utilize test sequencing logic to bypass tests of a test program that provide statistically low test information.
申请公布号 US2008155329(A1) 申请公布日期 2008.06.26
申请号 US20060642501 申请日期 2006.12.20
申请人 KOLMAN ROBERT S 发明人 KOLMAN ROBERT S.
分类号 G06F11/00 主分类号 G06F11/00
代理机构 代理人
主权项
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