发明名称 Rutheniumbarriere-Polieraufschlämmung
摘要 Die Polieraufschlämmung ist zur Entfernung von Rutheniumschichten von strukturierten Halbleitersubstraten in der Gegenwart von mindestens einem Nicht-Eisen-Zwischenverbindungsmetall und einem Dielektrikum geeignet. Die Polieraufschlämmung umfasst 0,001 bis 10 Gewichtsprozent Periodsäure oder eines Salzes davon, mindestens 0,0001 Gewichtsprozent Inhibitor zur Verminderung der Entfernungsgeschwindigkeit der Nicht-Eisen-Zwischenverbindungsmetalle, 0,00001 bis 5 Gewichtsprozent organisches Additiv zur Verminderung der Dielektrikum-Entfernungsgeschwindigkeit, wobei das organische Additiv aus mindestens einem von wasserlöslichen Polymeren und grenzflächenaktiven Mitteln ausgewählt ist, wobei das organische Additiv eine Ethylenoxidgruppe oder eine Amidgruppe enthält, 0,1 bis 50 Gewichtsprozent Schleifmittel und als Rest Wasser, und wobei die Aufschlämmung einen pH-Wert von mehr als 8 bis 12 aufweist.
申请公布号 DE102007059608(A1) 申请公布日期 2008.06.26
申请号 DE200710059608 申请日期 2007.12.11
申请人 ROHM AND HAAS ELECTRONIC MATERIALS CMP HOLDINGS INC. 发明人 LIU, ZHENDONG
分类号 C09G1/04;H01L21/321 主分类号 C09G1/04
代理机构 代理人
主权项
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