发明名称 沟槽制作方法
摘要 一种沟槽制作方法,提供具有第一沟槽的半导体衬底,在沟槽以外的半导体衬底上外延生长半导体材料,形成第二沟槽。本发明的工艺方法可大大提高沟槽的深度。
申请公布号 CN101206994A 申请公布日期 2008.06.25
申请号 CN200610147434.X 申请日期 2006.12.18
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 虞肖鹏;张复雄;季华
分类号 H01L21/00(2006.01);H01L21/20(2006.01);H01L21/306(2006.01) 主分类号 H01L21/00(2006.01)
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人 逯长明
主权项 1.一种沟槽制作方法,提供具有第一沟槽的半导体衬底,其特征在于,在第一沟槽以外的半导体衬底上生长外延半导体材料层,形成第二沟槽。
地址 201203上海市浦东新区张江路18号