发明名称 I/O端口测试装置
摘要 一种I/O端口测试装置,用于测试一电子产品的多个I/O端口,其包括一第一继电器、一第二继电器、一第一电阻、一第二电阻、若干串行通信发射插接口、若干串行通信接收插接口、一直流电压插接口、一漏水检测插接口及两个数据插接口,所述串行通信发射插接口与所述串行通信接收插接口对应相连,所述直流电压插接口连接所述第一继电器及第二继电器的内部开关后分别连接所述第一电阻及第二电阻再连接到所述漏水检测插接口上,所述两个数据插接口分别连接于所述第一继电器及第二继电器的内部线圈。所述I/O端口测试装置可测试电子设备的I/O端口,十分方便。
申请公布号 CN101206601A 申请公布日期 2008.06.25
申请号 CN200610201331.7 申请日期 2006.12.19
申请人 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 发明人 谢明志
分类号 G06F11/267(2006.01) 主分类号 G06F11/267(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种I/O端口测试装置,用于测试一电子产品的多个I/O端口,其特征在于:所述I/O端口测试装置包括一第一继电器、一第二继电器、一第一电阻、一第二电阻、若干串行通信发射插接口、若干串行通信接收插接口、一直流电压插接口、一漏水检测插接口及两个数据插接口,所述串行通信发射插接口与所述串行通信接收插接口对应相连,所述直流电压插接口连接所述第一继电器及第二继电器的内部开关后分别连接所述第一电阻及第二电阻再连接到所述漏水检测插接口上,所述两个数据插接口分别连接于所述第一继电器及第二继电器的内部线圈。
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