发明名称 |
半导体器件及其制造方法 |
摘要 |
一种半导体器件,包括至少一个半导体构件(3),该半导体构件(3)具有形成在半导体衬底(5)上的多个连接焊盘(6)。绝缘部件(14、14A)设置在半导体构件(3)的一侧上。上部互连(17、54)具有连接焊盘部分,所述连接焊盘部分设置在对应上部互连的绝缘板件(14、41A)上并连接到半导体构件(3)的外部连接电极(12)上。 |
申请公布号 |
CN100397629C |
申请公布日期 |
2008.06.25 |
申请号 |
CN200480000058.0 |
申请日期 |
2004.01.16 |
申请人 |
卡西欧计算机株式会社;CMK株式会社 |
发明人 |
三原一郎;若林猛;城户利浩;定别当裕康;吉野裕;影山信之;河野大太;吉泽润 |
分类号 |
H01L23/31(2006.01);H01L23/485(2006.01) |
主分类号 |
H01L23/31(2006.01) |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 |
代理人 |
刘炳胜 |
主权项 |
1.一种半导体器件,其特征在于包括:至少一个半导体构件(3),具有:具备多个连接焊盘(6)的半导体衬底(5)、形成在半导体衬底(5)上且具有露出所述各连接焊盘(6)的开口部分(10)的绝缘膜(9)、分别经由开口部分(10)与所述连接焊盘(6)连接且延伸到所述绝缘膜(9)上的互连(11)、以及设置在所述互连(11)上的多个外部连接电极(12);设置在所述半导体构件(3)周围的第一绝缘材料(14、14A);和具有连接焊盘部分的多个上部互连(17、54),其中连接焊盘部分设置在所述第一绝缘材料(14、14A)上并对应上部互连,并电连接到所述半导体构件(3)的外部连接电极(12)。 |
地址 |
日本东京 |