| 发明名称 | 相位调制装置和相位调制方法 | ||
| 摘要 | 叠加单元(60e)从图形存储单元(60a)中读取预期CGH图形，并且从失真校正图形存储单元(60d)中读取相位失真校正图形，并且将这两个图形叠加在一起，从而生成经过相位失真校正的图形。控制单元(60g)根据相位失真校正后的图形来控制相位调制模块(40)。因此，可以精确、容易且快速地根据预期相位图来对光进行相位调制。 | ||
| 申请公布号 | CN100397147C | 申请公布日期 | 2008.06.25 |
| 申请号 | CN02821209.6 | 申请日期 | 2002.10.25 |
| 申请人 | 滨松光子学株式会社 | 发明人 | 伊介崎泰则;福智昇央 |
| 分类号 | G02F1/01(2006.01);G03H1/22(2006.01) | 主分类号 | G02F1/01(2006.01) |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 李辉 |
| 主权项 | 1.一种相位调制装置，包括：用于发出相干光的光源(10)；叠加装置(60e)，该叠加装置将预期相位图和用于校正光的波阵面失真的波阵面失真校正相位图进行叠加，以生成失真校正后相位图；以及电寻址相位调制空间光调制器(40)，其根据所述失真校正后相位图来对光进行相位调制，其中，该波阵面失真校正相位图是通过反转表示光的波阵面失真的波阵面失真相位图的符号而生成的，当预期相位图和波阵面失真校正相位图之和具有负值或者等于或大于2π的值时，叠加装置(60e)生成通过将该和除以2π而得到的余数，作为所述失真校正后相位图。 | ||
| 地址 | 日本静冈县 | ||