发明名称 金属-绝缘层-金属电容器及其制造方法
摘要 本发明的一个实施例公开了一种金属-绝缘层-金属电容器及其制造方法,该方法包括:提供半导体衬底,其表面形成有第一绝缘层;于第一绝缘层上形成堆叠绝缘结构,其由多个第二绝缘层和多个第三绝缘层交错形成;形成开口于堆叠绝缘结构中以暴露出第一绝缘层的一部分;执行湿蚀刻工艺以大量去除这些第二绝缘层,及小量去除这些第三绝缘层,由此在这些第二绝缘层中沿着开口侧壁形成多个横向凹槽;形成底部电极层,其沿着开口及横向凹槽的侧壁和底部延伸;形成电容绝缘层于底部电极层上;及形成顶部电极层于电容绝缘层上。本发明的优点包括可改善材料层的品质以及减少工艺时间。
申请公布号 CN101207019A 申请公布日期 2008.06.25
申请号 CN200710110383.8 申请日期 2007.06.13
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 涂国基
分类号 H01L21/02(2006.01);H01L21/8242(2006.01);H01L27/108(2006.01) 主分类号 H01L21/02(2006.01)
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人 陈晨
主权项 1.一种金属-绝缘层-金属电容器的制造方法,包括:提供半导体衬底,其表面形成有第一绝缘层;在所述第一绝缘层上形成堆叠绝缘结构,其由多个第二绝缘层和多个第三绝缘层交错形成;在所述堆叠绝缘结构中形成开口以暴露出所述第一绝缘层的一部分;执行湿蚀刻工艺以大量去除所述多个第二绝缘层,及小量去除所述多个第三绝缘层,由此在所述多个第二绝缘层中沿着所述开口侧壁形成多个横向凹槽;形成底部电极层,其沿着所述开口及横向凹槽的侧壁和底部延伸;在所述底部电极层上形成电容绝缘层;及在所述电容绝缘层上形成顶部电极层。
地址 中国台湾新竹市