发明名称 JTAG-TESTARCHITEKTUR FÜR EIN MEHRCHIP-PACK
摘要
申请公布号 DE602005006524(D1) 申请公布日期 2008.06.19
申请号 DE200560006524T 申请日期 2005.01.05
申请人 NXP B.V. 发明人 TALAYSSAT, JACKY;BUWALDA, SAKE
分类号 G01R31/3185 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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