发明名称 Integrierte Schaltung mit einer Testeinrichtung und Verfahren zum Testen der Güte elektrischer Verbindungen der ingegrierten Schaltung
摘要 Bei der erfindungsgemäßen elektrischen Schaltung mit Einrichtung zum Test von Verbindungen in elektrischen Schaltungen wird die Veränderung eines Testsignals (27) aufgrund der Wirkung der langen Leitung zur Bestimmung der Güte einer elektrischen Verbindung, beispielsweise eines Pins, benutzt. Insbesondere wird durch Bestimmung eines Maximalwerts des am Leitungsende reflektierten Testsignals (28) eine Aussage über den Abschlußwiderstand und somit die Güte der Verbindung getroffen. Dabei kann eine vorhandene Boundary Scan Testimplementierung mit entsprechenden Erweiterungen benutzt werden, einschließlich eines vorhandenen Testcontrollers. Übliche digitale Signale können als Testsignal verwendet werden, wenn ihre Laufzeit durch ein Verzögerungsglied verlängert wird.
申请公布号 DE19938060(B4) 申请公布日期 2008.06.19
申请号 DE19991038060 申请日期 1999.08.12
申请人 NOKIA SIEMENS NETWORKS GMBH & CO.KG 发明人 PILLKAHN, ULF
分类号 G01R31/3187;G01R31/04;G01R31/28;G01R31/3183;G01R31/3185 主分类号 G01R31/3187
代理机构 代理人
主权项
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