| 主权项 |
1.一种掉落测试治具,其用以同时测试至少两个测 试板,该掉落测试治具包含: 一座板;以及 一多层支架组,包含至少两层支架依序堆叠固定于 该座板上,其中该两层支架系用以分别固定该两个 测试板。 2.依申请专利范围第1项之掉落测试治具,其中该多 层支架组包含第一、第二、第三及第四层支架依 序堆叠固定于该座板上。 3.依申请专利范围第1项之掉落测试治具,另包含复 数个第一固定件,用以将该两个测试板分别固定于 该两层支架上。 4.依申请专利范围第3项之掉落测试治具,其中该第 一固定件系为螺栓。 5.依申请专利范围第1项之掉落测试治具,其中该多 层支架组系为骨架结构或箱型结构或两者组合。 6.依申请专利范围第1项之掉落测试治具,另包含复 数个第二固定件,用以将该两层支架依序堆叠固定 于该座板上。 7.依申请专利范围第3项之掉落测试治具,其中该第 二固定件系为螺栓。 8.依申请专利范围第1项之掉落测试治具,另包含一 掉落块,其中该座板系固定于该掉落块。 9.依申请专利范围第1项之掉落测试治具,另包含一 加速度计,其安装于该座板上,且该座板系为金属 板。 10.依申请专利范围第1项之掉落测试治具,其中该 测试板包含复数个半导体封装构造。 11.一种掉落测试系统,其用以同时测试至少两个测 试板,该掉落测试系统包含: 一支撑平台; 一框架,直立固定于该支撑平台,并包含两导杆;以 及 一测试治具,包含 一座板;以及 一多层支架组,包含至少两层支架,其依序堆叠固 定于该座板上,用以分别固定该两个测试板,其中 该测试治具系沿该两导杆升至一预定高度,然后该 测试治具系沿该两导杆自由掉落。 12.依申请专利范围第11项之掉落测试系统,另包含 一刚性座及一撞击面,其中该撞击面系位于该刚性 座上,且该刚性座系固定于该支撑平台上。 13.依申请专利范围第11项之掉落测试系统,其中该 多层支架组包含第一、第二、第三及第四层支架 依序堆叠固定于该座板上。 14.依申请专利范围第11项之掉落测试系统,其中该 多层支架组系为骨架结构或箱型结构或两者组合 。 15.一种掉落测试方法,其用以同时测试至少两个测 试板,该掉落测试方法包含下列步骤: 提供一支撑平台及一框架,其中该框架系直立固定 于该支撑平台,并包含两导杆; 提供一测试治具,其包含一座板及一多层支架组, 该多层支架组包含至少两层支架,其依序堆叠固定 于该座板上; 将该两个测试板分别固定于该两层支架上;以及 将该测试治具及该两个测试板沿该两导杆升至一 预定高度,然后将该测试治具沿该两导杆自由掉落 ,以进行该掉落测试方法。 16.依申请专利范围第15项之掉落测试方法,另包含 下列步骤: 提供一刚性座及一撞击面,其中该撞击面系位于该 刚性座上,且该刚性座系固定于该支撑平台上。 17.依申请专利范围第15项之掉落测试方法,其中该 多层支架组包含第一、第二、第三及第四层支架 依序堆叠固定于该座板上。 18.依申请专利范围第15项之掉落测试方法,其中该 多层支架组系为骨架结构或箱型结构或两者组合 。 图式简单说明: 第1图为先前技术之电子产品之掉落试验之剖面示 意图。 第2图为先前技术之掉落测试装置之剖面示意图。 第3图为先前技术之测试治具之剖面示意图。 第4图为本发明之一实施例之掉落测试装置之剖面 示意图。 第5图为本发明之一实施例之测试治具之剖面示意 图。 第6a、6b及6c图为本发明之不同实施例之测试治具 之立体示意图。 |
