发明名称 检测装置
摘要 本创作提供一种检测装置,其包含一承载单元,其具有一底座、设于底座之一扫描器、具有一缺口部且叠设于底座一面上之一靠板及设于底座一面上之复数定位器;设于底座一侧之一检测单元,检测单元具有间隔排列之复数发射器;设于底座另一侧之一接收单元,接收单元具有分别与该些发射器对应之一接收器;电性连接定位器、检测单元及接收单元之一可程式逻辑控制器;以及电性连接扫描器及可程式逻辑控制器之一操作单元。藉此,可将待侧物体置放于承载单元上,利用检测单元及接收单元与操作单元之配合,达到检测待侧物体之平整度的目的。
申请公布号 TWM334319 申请公布日期 2008.06.11
申请号 TW097200940 申请日期 2008.01.15
申请人 圣凰科技有限公司 发明人 刘永隆;吴俊龙
分类号 G01B7/34(2006.01) 主分类号 G01B7/34(2006.01)
代理机构 代理人 赖安国 台北市信义区东兴路37号9楼;李政宪 台北市信义区东兴路37号9楼;王立成 台北市信义区东兴路37号9楼
主权项 1.一种检测装置,其包含: 一承载单元,其具有一底座、设于该底座之一扫描 器、具有一缺口部且叠设于该底座一面上之一靠 板及设于该底座该面上之复数定位器; 一检测单元,其设于该底座之一侧,且该检测单元 具有间隔排列之复数发射器; 一接收单元,其设于该底座之另一侧,且该接收单 元具有分别与该些发射器对应之一接收器;以及 一可程式逻辑控制器,其电性连接该些定位器、该 检测单元及该接收单元; 一操作单元,其电性连接该扫描器及该可程式逻辑 控制器。 2.如申请专利范围第1项所述之检测装置,其中,该 发射器为一红外线或雷射发射器。 3.如申请专利范围第1项所述之检测装置,其中,该 操作单元包含一输入单元、一输出单元及一控制 单元,该输入单元及该输出单元电性连接该控制单 元。 4.如申请专利范围第3项所述之检测装置,其中,该 输入单元为一键盘或一滑鼠。 5.如申请专利范围第3项所述之检测装置,其中,该 输出单元为一显示器。 6.如申请专利范围第3项所述之检测装置,其中,该 控制单元为一电脑主机,其电性连接该扫描器及该 可程式逻辑控制器。 7.如申请专利范围第1项所述之检测装置,其中,该 扫描器为一条码机。 8.如申请专利范围第1项所述之检测装置,其中,更 包含一显示灯柱,其电性连接该可程式逻辑控制器 。 9.如申请专利范围第1项所述之检测装置,其中,该 些发射器系分别藉由一高度调整器设于该底座之 一侧。 10.如申请专利范围第9项所述之检测装置,其中,该 高度调整器具有一高度调整座及一螺丝,该发射器 设于该高度调整座之一端,该高度调整座之另一端 穿设于该底座之一侧,并藉由该螺丝螺入该底座后 固定。 11.如申请专利范围第1项所述之检测装置,其中,该 些接收器系分别藉由一高度调整器设于该底座之 另一侧。 12.如申请专利范围第11项所述之检测装置,其中,该 高度调整器具有一高度调整座及一螺丝,该接收器 设于该高度调整座之一端,该高度调整座之另一端 穿设于该底座之另一侧,并藉由该螺丝螺入该底座 后固定。 图式简单说明: 第一图,系本创作之立体分解之示意图。 第二图,系本创作之立体组合之示意图。 第三图,系本创作之待侧物正面之示意图。 第四图,系本创作之待侧物背面之示意图。 第五图,系本创作之使用状态之示意图。 第六图,系本创作之操作介面之示意图一。 第七图,系本创作之操作介面之示意图二。 第八图,系本创作之操作介面之示意图三。 第九图,系本创作之操作介面之示意图四。 第十图,系本创作之操作介面之示意图五。 第十一图,系本创作之操作介面之示意图六。
地址 新竹市关东路73号