| 发明名称 | 用于处理电子器件的系统 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种用于检查电子器件的系统，特别用于电子器件的处理、检查、分类和卸载。一种用于检查电子器件的装置，其包含有：支持体，其用于支撑电子器件；驱动机构，其用于在装载位置和卸载位置之间移动电子器件，在该装载位置处将该电子器件放置于该支持体上，而在卸载位置处将该电子器件移离该支持体；第一光学系统，其位于该装载位置和卸载位置之间，被装配来检查由该支持体所支撑时的电子器件的第一表面；第二光学系统，其位于该装载位置和卸载位置之间，被装配来检查由该支持体所支撑时的电子器件的第二表面，该第二表面和该第一表面相对。 | ||
| 申请公布号 | CN100394572C | 申请公布日期 | 2008.06.11 |
| 申请号 | CN200410101440.2 | 申请日期 | 2004.12.20 |
| 申请人 | 先进自动器材有限公司 | 发明人 | 郑志华;曾海峰;杨智逸;谢泓龙 |
| 分类号 | H01L21/66(2006.01);H01L21/50(2006.01);H01L21/00(2006.01);H05K13/00(2006.01) | 主分类号 | H01L21/66(2006.01) |
| 代理机构 | 北京申翔知识产权代理有限公司 | 代理人 | 周春发 |
| 主权项 | 1.一种用于检查电子器件的装置，其包含有：支持体，其用于支撑电子器件；驱动机构，其用于在装载位置和卸载位置之间移动电子器件，在该装载位置处将该电子器件放置于该支持体上，而在卸载位置处将该电子器件移离该支持体；第一光学系统，其位于该装载位置和卸载位置之间，被装配来检查由该支持体所支撑时的电子器件的第一表面；第二光学系统，其位于该装载位置和卸载位置之间，被装配来检查由该支持体所支撑时的电子器件的第二表面，该第二表面和该第一表面相对；其中该支持体包含有一透明部，以便于由该支持体一侧所支撑的电子器件的表面在该支持体的相对侧是可见的。 | ||
| 地址 | 香港新界葵涌工业街16－22号屈臣氏中心20楼 | ||