发明名称 |
直接分析植物组织切片化学成分的方法 |
摘要 |
本发明一种直接分析植物组织切片化学成分的方法,涉及化学成分分析技术,包括步骤:S1、将待检植物切成10-20μm厚的切片,取一片切片放到基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶上;S2、配制基质溶液;S3、用移液器将基质溶液加到植物组织切片上;S4、将靶和点有基质溶液的组织切片,放到真空干燥器中干燥;S5、将干燥后的靶和待检植物组织切片,直接放入基质辅助激光解析电离-飞行时间质谱仪进行分析,即得到植物切片所含化学成分的信息。本发明的分析方法快捷,方便,高效,全面,无需样品化学处理,避免了传统样品处理和分析方法耗时长,微量成分难于分析,可能破坏化学成分的缺点。 |
申请公布号 |
CN101196491A |
申请公布日期 |
2008.06.11 |
申请号 |
CN200610164872.7 |
申请日期 |
2006.12.07 |
申请人 |
蔡宗苇 |
发明人 |
蔡宗苇;吴巍;赵中振;梁之桃 |
分类号 |
G01N27/64(2006.01);G01N30/00(2006.01) |
主分类号 |
G01N27/64(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
周国城 |
主权项 |
1.一种直接分析植物组织切片化学成分的方法,其特征在于:包括步骤:S1、将待检植物用切片机切成10-20μm厚的切片,将切片放到基质辅助激光解析电离-飞行时间质谱仪的靶上;S2、用移液器将基质溶液加到植物组织切片上,用量为≤30μl/cm2;S3、将靶和点有基质溶液的组织切片,放到真空干燥器中,干燥后待测;S4、将干燥后的靶和待检植物组织切片,放入基质辅助激光解析电离-飞行时间质谱仪进行直接分析,用基质辅助激光解析电离-飞行时间质谱测定,方法是:在切片上顺时针选取10个点,每个点采集30次,累加10个点采集的数据为测定质谱图,即得到植物切片所含化学成分的信息。 |
地址 |
香港九龙窝打老道224号香港浸会大学化学系 |