| 发明名称 | 一种可调整测量几何的磁光圆偏振二向色性测量系统 | ||
| 摘要 | 一种可调整测量几何的磁光圆偏振二向色性测量系统，其结构为：一飞秒激光器激发超连续光谱白光，通过一单色仪进行分光，成为波长可以调节的单色光，该单色光通过一个消光系数为10<SUP>－5</SUP>的格兰－泰勒棱镜纯化偏振；一光弹调制器，其光轴与格兰－泰勒棱镜的光轴成45°角，使光成为左旋和右旋交替变化的圆偏振光；一样品，放在低温磁体的中心；圆偏振光聚焦到样品上，从样品反射回来的反射光聚焦到第一光二极管探测器上；一锁相放大器，其参考信号由光弹调制器的控制器提供，用于测左旋和右旋圆偏振光的光强差。本发明不仅可以测量材料的磁光圆偏振二向色性的频谱、磁场强度和温度依赖性，还可以测量磁性半导体的磁晶各向异性。 | ||
| 申请公布号 | CN101196559A | 申请公布日期 | 2008.06.11 |
| 申请号 | CN200610164886.9 | 申请日期 | 2006.12.07 |
| 申请人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明人 | 甘华东;郑厚植;孙宝权;赵建华 |
| 分类号 | G01R33/12(2006.01);G01R31/00(2006.01);G01R31/26(2006.01);G01M11/00(2006.01);G01M11/02(2006.01) | 主分类号 | G01R33/12(2006.01) |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 周长兴 |
| 主权项 | 1.一种可调整测量几何的磁光圆偏振二向色性测量系统，其结构为：一飞秒激光器激发超连续光谱白光，通过一单色仪进行分光，成为波长可以调节的单色光，该单色光通过一个消光系数为10-5的格兰-泰勒棱镜纯化偏振；一光弹调制器，其光轴与格兰-泰勒棱镜的光轴成45°角，使光成为左旋和右旋交替变化的圆偏振光；一样品，放在低温磁体的中心；圆偏振光聚焦到样品上，从样品反射回来的反射光聚焦到第一光二极管探测器上；一锁相放大器，其参考信号由光弹调制器的控制器提供，用于测左旋和右旋圆偏振光的光强差。 | ||
| 地址 | 100083北京市海淀区清华东路甲35号 | ||