发明名称 |
适用于氮化镓器件的铝/钛/铝/钛/金欧姆接触系统 |
摘要 |
本发明涉及AlGaN/GaN HEMT器件的欧姆接触技术领域,特别是一种适用于AlGaN/GaN HEMT器件的新型欧姆接触Al/Ti/Al/Ti/Au的合金系统。欧姆接触金属蒸发时采用五层结构的AlTiAlTiAu结构。与AlGaN接触的金属第一金属层为Al,然后顺次为次为Al/Ti/Al/Ti/Au。合金温度的范围为660℃-760℃,合金时间在20-60S的范围内。该技术的合金温度、合金时间有较大的选择范围,降低了工艺难度,扩大了工艺宽容度,提高了工艺的重复性。获得比较理想的合金形貌。 |
申请公布号 |
CN100394560C |
申请公布日期 |
2008.06.11 |
申请号 |
CN200410058037.6 |
申请日期 |
2004.08.09 |
申请人 |
中国科学院微电子研究所 |
发明人 |
魏珂;和致经;刘新宇;刘健;吴德馨 |
分类号 |
H01L21/3205(2006.01);B32B15/01(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/3205(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
周国城 |
主权项 |
1.一种用于AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管器件的欧姆接触合金系统,其特征在于,欧姆接触金属蒸发时采用五层结构的Al/Ti/Al/Ti/Au结构,与AlGaN接触的金属第一金属层为Al,然后顺次为Ti/Al/Ti/Au,形成五层结构的欧姆接触合金。 |
地址 |
100029北京市朝阳区北土城西路3号 |