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经营范围
发明名称
Verfahren um den Leerlauf von Plattenlaufwerken zu kontrollieren und Vorrichtung dafür
摘要
申请公布号
DE602005006170(D1)
申请公布日期
2008.06.05
申请号
DE20056006170T
申请日期
2005.02.18
申请人
SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.
发明人
SUNG-JOONG, YUN;JIN-WAN, JUN
分类号
G11B5/00;G06F1/32;G06F3/06;G11B5/54;G11B5/55;G11B19/00;G11B19/20;G11B19/28;G11B21/12;G11B25/04;G11B33/12
主分类号
G11B5/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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