| 发明名称 | 具有对准标记的半导体器件以及显示设备 | ||
| 摘要 | 一种半导体器件(10)，其包括半导体衬底(16)和对准标记(1)。对准标记(1)提供于半导体衬底(16)上并且可光学检测。对准标记(1)包括亮区(101)和暗区(102)。亮区(101)输出从半导体衬底(16)表面反射的光。暗区(102)包括金属布线(14)，输出从金属布线(14)表面反射的光，并且其亮度低于亮区的亮度。 | ||
| 申请公布号 | CN101192596A | 申请公布日期 | 2008.06.04 |
| 申请号 | CN200710196144.9 | 申请日期 | 2007.11.28 |
| 申请人 | 恩益禧电子股份有限公司 | 发明人 | 堀井秀明 |
| 分类号 | H01L23/544(2006.01) | 主分类号 | H01L23/544(2006.01) |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 钟强;谷惠敏 |
| 主权项 | 1.一种半导体器件，包括：半导体衬底；以及对准标记，其构成为提供于所述半导体衬底上并可光学检测，其中所述对准标记包括：亮区，其构成为输出从所述半导体衬底表面反射的光，以及暗区，其构成为包括金属布线，输出从所述金属布线表面反射的光，并且其亮度低于所述亮区的亮度。 | ||
| 地址 | 日本神奈川 | ||