阵列元件的检测、解析及识别

摘要

一种用于分析光学薄膜阵列的图像分析工作站。各个独立阵列包括单个光学薄膜测试表面，该光学薄膜测试表面提供了多个离散寻址位置，每个位置又包括一个针对感兴趣分析物的固定化捕捉试剂。一个或多个离散寻址位置可以提供控制信号或基准信号。

主权项

1.一种识别测试表面上阵列位置的方法，其包括：a)获取所述测试表面的电子图像；b)通过检测所述图像的边缘并旋转所述图像对所述图像进行正方形化，从而使像素的各个列和行分别被定向成一种垂直和水平的方式；c)通过检测对应于所述网格的行和列的信号峰值的一个网格，对所述图像上所述列和行的网格进行定位；d)利用一个信号强度阈值，应用阈值化操作来对所述图像进行二进制化；以及e)检查阈值化图像，从而识别所述网格上的斑点位置。