| 发明名称 | 用于接触检测件的接触装置及接触检测件的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于接触待检测电子检测件(25)，尤其是设有镀锡触点的检测件(25)的接触装置(1)，具有至少两个带有缺口(16，17，18，19)的导向元件(2，3，4，5)，通过所述接触元件(20)本质上沿轴向延伸，所述接触元件(20)在分配的导向元件(5)的向所述检测件(25)的面上从该面突出以接触所述检测件(25)。规定所述导向元件(2，3，4，5)的轴向间距或者移向所述检测件(25)的导向元件(5)的轴向位置能够被校准以适应所述突出长度(H)。 | ||
| 申请公布号 | CN101191800A | 申请公布日期 | 2008.06.04 |
| 申请号 | CN200710162079.8 | 申请日期 | 2007.11.26 |
| 申请人 | 精炼金属股份有限公司 | 发明人 | 赖纳·施密德;乌尔里希·高斯 |
| 分类号 | G01R1/02(2006.01) | 主分类号 | G01R1/02(2006.01) |
| 代理机构 | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人 | 王洁 |
| 主权项 | 1.一种用于接触待检测的电子检测件(25)，尤其是设有镀锡触点的检测件(25)的接触装置(1)，具有至少两个带有缺口(16，17，18，19)的导向元件(2，3，4，5)，通过所述的缺口，接触元件(20)本质上沿轴向延伸，所述接触元件(20)在分配的导向元件(5)的移向所述检测件(25)的面上从该面突出以接触所述检测件(25)，其特征在于，能够校准所述导向元件(2，3，4，5)的轴向间距或者移向所述检测件(25)的导向元件(5)的轴向位置以适应突出长度(H)。 | ||
| 地址 | 德国海伦堡齐柏林大街8号 | ||