发明名称 薄晶粒分离装置及方法
摘要 本发明公开一种用于薄晶粒分离装置及方法,在粘性膜未粘附该晶粒的一表面上,接触并向上抬起位于晶粒下面的粘性膜,且对准于该晶粒几何形状的角处,并与该晶粒边缘保持一预定距离;从晶粒上分离位于晶粒几何形状角处下面的粘性膜,藉此使该晶粒自粘性膜表面部分脱离;以及夹取该自粘性膜表面部分脱离的晶粒,并将其自粘性膜表面分离。
申请公布号 CN100392798C 申请公布日期 2008.06.04
申请号 CN03160004.2 申请日期 2003.09.19
申请人 先进自动器材有限公司 发明人 张耀明;庄智明;李达荣;梁家乐
分类号 H01L21/00(2006.01);H01L21/68(2006.01);H01L21/70(2006.01);H01L21/77(2006.01);H05K13/02(2006.01);H05K13/04(2006.01) 主分类号 H01L21/00(2006.01)
代理机构 北京申翔知识产权代理有限公司 代理人 周春发
主权项 1.一种将薄晶粒从粘性膜分离的装置,该粘性膜具有一粘性面并粘附多个晶粒,该装置包含有:具有多个推针的分离装置,其中,该推针对准该欲分离晶粒几何形状的角处,且与该晶粒边缘保持预定距离内,通过接触晶粒下面粘性膜上未粘附该晶粒的一表面,开始从粘性膜有效分离晶粒,并且通过抬起晶粒角处下面的粘性膜,将晶粒从粘性膜分离开;以及夹套,该夹套在经过分离装置开始分离后,用以将晶粒从粘性膜有效分开,并从粘性膜上夹取该分离后的晶粒;该与所述晶粒边缘的预定距离小于1.2mm,此时,该晶粒为宽度介于3m至8mm之间且厚度小于0.15mm的硅晶粒,而该粘性膜厚度约为0.1mm,且该晶粒与该粘性膜粘附介面之间的粘附力强度小于每平方公尺15焦耳。
地址 香港新界葵涌工业区16-22号屈臣氏中心20楼