发明名称 |
一种跨ATM设备的连接性能测试装置及其测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种跨ATM设备的连接性能测试装置及其测试方法,用于测试本端设备和远端设备测试之间永久虚链路的连接性能,该测试装置包括:ATM交换处理模块,用于接收、发送测试用数据、ATM信元;上行业务处理模块,用于将ATM交换处理模块传送的ATM信元发送至外部接口;下行业务处理模块,用于接收外部接口的ATM信元,并交ATM交换处理模块处理;及分段重组控制模块,与ATM交换处理模块建立数据通讯,用于将测试用数据封装成符合永久虚链路连接测试参数的ATM信元,并通过分析处理该ATM信元测试永久虚链路的连接性能。利用本发明能有效简化永久虚链路功能测试的复杂性,降低运营商的设备投入,极大提高测试效率。 |
申请公布号 |
CN100393049C |
申请公布日期 |
2008.06.04 |
申请号 |
CN200510040031.0 |
申请日期 |
2005.05.11 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
邹旭军 |
分类号 |
H04L12/26(2006.01);H04L12/56(2006.01) |
主分类号 |
H04L12/26(2006.01) |
代理机构 |
北京律诚同业知识产权代理有限公司 |
代理人 |
梁挥;徐金国 |
主权项 |
1.一种跨ATM设备的连接性能测试装置,用于测试本端设备和远端设备测试之间永久虚链路的连接性能,包括:一ATM交换处理模块,用于接收、发送测试用数据、ATM信元;一上行业务处理模块,用于将所述ATM交换处理模块传送的ATM信元发送至外部接口;一下行业务处理模块,用于接收所述外部接口的ATM信元,并交所述ATM交换处理模块处理;及一分段重组控制模块,与所述ATM交换处理模块建立数据通讯,用于将所述测试用数据封装成符合永久虚链路连接测试参数的ATM信元,并通过分析处理该ATM信元测试所述永久虚链路的连接性能;其特征在于,所述分段重组控制模块又包括:一预处理子模块,用于将所述测试用数据生成含校验字节的数据包、提取校验字节恢复测试数据、统计比特误码率、保存性能统计结果;一公共部分会聚处理子模块,连接所述预处理子模块,用于对所述数据包进行尾标域添加处理、循环冗余校验;及一分段重组处理子模块,连接所述公共部分会聚处理子模块,用于拆分、重组数据包,及对拆分后的数据包添加ATM信元头,生成ATM信元流。 |
地址 |
518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦A座6层 |