积体电路装置和嵌入式记忆体测试方法

摘要

一种积体电路装置,包括嵌入式记忆体和内建自我测试电路,嵌入式记忆体包括复数记忆体巨集,内建自我测试电路耦接复数记忆体巨集以同时操作复数记忆体巨集,其中当记忆体巨集同时运作时,内建自我测试电路被设定为从记忆体巨集之资料输出端中选择一独立记忆体巨集之资料输出端以作测试分析之用。