发明名称 光学位置追踪装置及其测试方法
摘要 一种光学位置追踪装置及其测试方法,此装置包含:控制器,用于响应于命令信号而产生至少一个测试操作信号;测试信号产生器,用于响应于所述测试操作信号在测试操作期间产生测试信号;运动计算器,用于响应于所述测试操作信号在所述测试操作期间接收所述测试信号并执行操作,以输出输出信号;以及输出信号分析器,用于回应于所述测试操作信号在所述测试操作期间确定所述输出信号是否正确,以输出结果信号。因此,本发明可以显着降低测试方法的复杂性而不必采用高性能测试设备。
申请公布号 TW200823427 申请公布日期 2008.06.01
申请号 TW096131215 申请日期 2007.08.23
申请人 艾勒博科技股份有限公司 发明人 李佑锡;李芳远
分类号 G01B11/00(2006.01);G06F3/038(2006.01) 主分类号 G01B11/00(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 韩国