| 主权项 |
1.一种测试探针,系于一导管的内部设有两金合金 接触针,两金合金接触针的一端各伸出导管,以分 别和电路板或待测物体接触,两金合金接触针的本 体底端之间并设有一弹性元件,使两金合金接触针 可以靠着弹性元件的作用,和导管内壁保持滑动接 触,并且因为两金合金接触针为金合金材质,故能 有较佳之耐磨性与较佳之接触灵敏度者。 2.如申请专利范围第1项之测试探针,其中所述两接 触针,其本体底部之间并设有一能用以传递讯号之 导线。 3.如申请专利范围第2项之测试探针,其中所述之导 线,系高传导系数或高延展系数之软导线。 4.如申请专利范围第2项之测试探针,其中所述之导 线,系高传导系数或高弹性系数之导线。 5.一种测试探针,包括两接触针、一提供两接触针 得相对活动之导管、以及一介于两接触针之间的 弹性元件;其中,两接触针之一端系穿出导管而可 和电路板或待测物体接触,两接触针之本体系位于 导管内而可和导管的内壁保持滑动接触;其特征在 于:所述之两接触针,其本体之相对端系设有一可 作插入式接触之公端或母端。 6.如申请专利范围第5项之测试探针,其中所述之接 触针系金合金接触针。 7.如申请专利范围第5项之测试探针,其中所述之接 触针,其公端系一凸杆,而母端系一可供该凸杆插 入滑动接触之凹槽。 8.如申请专利范围第5项之测试探针,其中所述之公 端接触针和母端接触针可为圆柱型或扁平柱型。 图式简单说明: 第1图系习见测试探针之透视平面图。 第2图系习见测试探针之第一使用示图。 第3图系习见测试探针之第二使用示图。 第3A图系习见测试探针之接触针剖面示图。 第4图系本创作之剖面示图。 第5图系本创作之第二实施例剖面示图。 第6图系本创作之第二实施例透视使用示图。 第7图系本创作之第三实施例立体示图。 第8图系本创作之第四实施例透视剖面示图。 第9图系本创作之第四实施例使用剖面示图。 第10图系本创作之第五实施例使用剖面示图。 |
