发明名称 氧化膜形成方法及其装置
摘要 氧化膜形成装置1系将紫外光区域之光照射于基板7上,同时将由有机矽构成的原料气体G1与臭氧气体G2供应至基板7上而使氧化膜形成在基板7之表面上。将基板7收纳于处理炉2中。配管3系于室温下,使原料气体G1与臭氧气体G2予以混合后而供应至处理炉2内之基板7上。光源5系将较210nm更长波长之光作为紫外光区域之光而照射于基板7上。供应至配管3之臭氧气体G2相对于原料气体G1的混合量系至少使原料气体G1完全氧化所需的化学当量以上之方式来加以设定。若根据氧化膜形成装置1,提高原料气体之利用效率,同时藉由200℃以下之制膜步骤而能够形成具优越电特性的氧化膜。
申请公布号 TW200824004 申请公布日期 2008.06.01
申请号 TW096131329 申请日期 2007.08.24
申请人 明电舍股份有限公司;独立行政法人产业技术总合研究所 发明人 西口哲也;龟田直人;齐藤茂;野中秀彦;一村信吾
分类号 H01L21/316(2006.01);H01L21/336(2006.01);H01L29/786(2006.01);C23C16/40(2006.01) 主分类号 H01L21/316(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂;何秋远
主权项
地址 日本