首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 电子元件测试装置及托架之搬运方法
摘要 一种电子元件测试装置(1),包含测试部(120),该测试部在IC元件装载于测试托架(TST)上之状态下,使IC元件和固定于测试头(5)上部之定位部(51)上所设置之插槽(52)作电子接触,以进行IC元件之测试,该测试部(120)具有在水平方向搬运测试托架(TST)的搬运装置(124)和可使搬运装置(124)相对于定位部(51)之相对高度变化的高度调整装置(125)。
申请公布号 TW200823471 申请公布日期 2008.06.01
申请号 TW096139626 申请日期 2007.10.23
申请人 阿德潘铁斯特股份有限公司 发明人 伊藤明彦;增尾芳幸
分类号 G01R31/26(2006.01);H01L21/677(2006.01) 主分类号 G01R31/26(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com