发明名称 | 多测试埠半导体测试机台之自动化设定方法 | ||
摘要 | 一种多测试埠半导体测试机台之自动化设定方法,该方法是分别针对不同之测试产品,将其测试程序、测试产品资讯及设备参数设定等繁琐步骤,制成各自对应该测试产品之映像档,以便由测试机台管理该等映像档;产品测试前只需将各待测试机板上之识别码输入测试机台,即可开始一连串之自动测试程序;依照该方法将可大幅减化产品测试前所需之繁琐设定,如此便能更进一步确保测试的正确性与完整性,大幅度提升管理的效能与产品测试之效率。 | ||
申请公布号 | TW200823470 | 申请公布日期 | 2008.06.01 |
申请号 | TW095144472 | 申请日期 | 2006.11.30 |
申请人 | 致茂电子股份有限公司 | 发明人 | 赖佳宏 |
分类号 | G01R31/26(2006.01) | 主分类号 | G01R31/26(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山乡华亚科技园区华亚一路66号 |