发明名称 多测试埠半导体测试机台之自动化设定方法
摘要 一种多测试埠半导体测试机台之自动化设定方法,该方法是分别针对不同之测试产品,将其测试程序、测试产品资讯及设备参数设定等繁琐步骤,制成各自对应该测试产品之映像档,以便由测试机台管理该等映像档;产品测试前只需将各待测试机板上之识别码输入测试机台,即可开始一连串之自动测试程序;依照该方法将可大幅减化产品测试前所需之繁琐设定,如此便能更进一步确保测试的正确性与完整性,大幅度提升管理的效能与产品测试之效率。
申请公布号 TW200823470 申请公布日期 2008.06.01
申请号 TW095144472 申请日期 2006.11.30
申请人 致茂电子股份有限公司 发明人 赖佳宏
分类号 G01R31/26(2006.01) 主分类号 G01R31/26(2006.01)
代理机构 代理人
主权项
地址 桃园县龟山乡华亚科技园区华亚一路66号