发明名称 |
Verfahren und Vorrichtung zum Charakterisieren von Wafern bei der Herstellung von Solarzellen |
摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Charakterisieren von Wafern bei der Herstellung von Solarzellen, mit den Schritten: a) Bereitstellen eines Wafers und Durchführen eines Herstellungsprozesses mit dem Wafer zum Herstellen einer Solarzelle oder mehrerer Solarzellen; b) während des Herstellungsprozesses Durchführen eines Nasschemieschrittes mit dem Wafer, wobei der Nasschemieschritt einen Einfluss der Waferoberfläche auf die Lebensdauer von Ladungsträgern in dem Wafer verringert; c) während des Nasschemieschrittes oder nach dem Nasschemieschritt Bestrahlen des Wafers mit Licht zum Erzeugen von Ladungsträgern in dem Wafer; d) Bestimmen der Lebensdauer der in Schritt c) erzeugten Ladungsträger; und e) Charakterisieren des Wafers anhand der in Schritt d) bestimmten Lebensdauer. In einem zweiten Aspekt betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zum Charakterisieren von Wafern bei der Herstellung von Solarzellen. |
申请公布号 |
DE102006049683(B3) |
申请公布日期 |
2008.05.29 |
申请号 |
DE20061049683 |
申请日期 |
2006.10.13 |
申请人 |
Q-CELLS AG |
发明人 |
MUELLER, JOERG;ISENBERG, JOERG;SUTHUES, JOERN;BIVOUR, MARTIN;RAKOTONIAINA, JEAN PATRICE |
分类号 |
H01L31/18;H01L21/306 |
主分类号 |
H01L31/18 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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