发明名称 |
一种光纤测距方法及装置 |
摘要 |
一种光纤测距方法及其装置,包括波长扫描光源(1),光纤耦合器(2、2′、2″),光纤光栅(3、3′),光纤准直器(4),待测物体表面(5),光电探测器(6、6′),A/D转换器(7)和计算机(8)。波长扫描光源的输出光经光纤耦合器分成两路,一路光进入两只不同中心波长的光纤光栅,光纤光栅的反射光由光电探测器探测;另一路光进入光纤准直器,在准直器的端面部分反射,出射光被待测物体表面部分反射回光纤准直器,两束反射光干涉后由光电探测器探测;光电探测器的输出信号经A/D转换器输入计算机,通过傅立叶变换白光干涉相位解调法计算出光纤准直器端面和待测物体表面间的距离。 |
申请公布号 |
CN101187556A |
申请公布日期 |
2008.05.28 |
申请号 |
CN200710179472.8 |
申请日期 |
2007.12.13 |
申请人 |
北京理工大学 |
发明人 |
江毅;唐才杰 |
分类号 |
G01C3/00(2006.01);G01C3/08(2006.01);G02B6/26(2006.01);G02B6/34(2006.01) |
主分类号 |
G01C3/00(2006.01) |
代理机构 |
北京理工大学专利中心 |
代理人 |
张利萍 |
主权项 |
1.一种光纤测距方法及其装置,包括波长扫描光源(1),光纤耦合器(2、2′、2″),光纤光栅(3、3′),光纤准直器(4),待测物体表面(5),光电探测器(6、6′),A/D转换器(7)和计算机(8),其特征在于:波长扫描光源的输出光经一只光纤耦合器分成两路,一路光经另一只光纤耦合器进入两只不同中心波长的光纤光栅,光纤光栅的反射光由光电探测器探测;另一路光经第三只光纤耦合器进入光纤准直器,在准直器的端面部分反射,出射光被待测物体表面部分反射回光纤准直器,两束反射光干涉后由光电探测器探测;光电探测器的输出信号经A/D转换器输入计算机进行处理,从而得到光纤准直器端面和待测物体表面间的距离。 |
地址 |
100081北京市海淀区中关村南大街5号 |