采用多元曝光参数公式进行X射线检测的方法

摘要

本发明公开了一种采用多元曝光参数公式进行X射线检测的方法。它通过调整射线机电压得到所需黑度，可快速准确的对X射线进行曝光。其方法为：1)取至少两个工件，其厚度分别为T1和T2且T1≠T2；2)对X射线机根据两工件分别设定相应的透照电流I1、曝光时间t1、焦距f1和管电压V1；以及透照电流I2、曝光时间t2、焦距f2和管电压V2；3)根据上述两组参数，将射线机对准工件中心部位，分别用主射线束进行透照，并对透照出来的板厚为T1和T2的底片对应工件的中心部位用密度计测试其黑度，记录黑度值分别为D1和D2，其他条件不变，按实测黑度D1和D2代入上述公式(1)中计算对应的电压V1’和V2’值；4)将该公式植入X射线机控制箱的控制芯片内，此后该X射线机即可完成自动曝光。

主权项

1.一种采用多元曝光参数公式进行X射线检测的方法，其特征是：它的方法为：1)取至少两个工件，它们的厚度分别为T1和T2且T1≠T2；2)对X射线机根据两工件分别设定相应的透照电流I1、曝光时间t1、焦距f1和管电压V1；以及透照电流I2、曝光时间t2、焦距f2和管电压V2；3)根据上述两组参数，将射线机对准工件中心部位，分别用主射线束进行透照，并对透照出来的板厚为T1和T2的底片对应工件的中心部位用密度计测试其密度即通常称所谓的黑度，记录黑度值分别为D1和D2，其他条件不变再分别按实测黑度D1和D2代入公式$V=724\times \frac{k_1}{E{k}_4}+25.22\times k_2\times D-\frac{1283\times k_3}{{\left({\mathrm{Ek}}_4\right)}^2}---\left(1\right)$中计算对应的电压V1’和V2’值；其中：V：X射线机的管电压，单位：千伏E：透照曝光量单位mA·minf：透照焦距单位mmT：透照厚度单位mmk1系数k1＝1.32((T-12)/8 k2系数k2＝1.25(T-12)/8 k3系数k3＝1.28(T-12)/8 k4系数k4＝(700/f)2 这样即可建立透照厚度T、透照电流I、曝光时间t、焦距f、黑度和管电压V间的对应关系；4)将该公式植入X射线机控制箱的控制芯片内，此后该X射线机即可完成自动曝光。