发明名称 金属氧化物半导体场效应晶体管及其制造方法
摘要 本发明提供一种具有金属氧化物半导体场效应晶体管及其制造方法。先于基底的有源区中形成沟槽,接着形成多个第一绝缘间隙壁于沟槽的侧壁及其外缘,再形成栅介电层于暴露出的基底上。然后,在沟槽上形成栅极,再进行离子注入,以在第一绝缘间隙壁下方与栅极外侧的基底中形成源极/漏极。接着,在基底上形成绝缘层,再以非等向性蚀刻法蚀刻此绝缘层,以在栅极的侧壁上形成多个第二绝缘间隙壁,并暴露出栅极外侧的基底的表面。最后,形成硅化金属层于暴露出的栅极与基底的上表面。
申请公布号 CN100390947C 申请公布日期 2008.05.28
申请号 CN200410030050.0 申请日期 2004.03.18
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 杨国男;詹宜陵;陈豪育;杨富量;胡正明
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L29/786(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人 王铮
主权项 1.一种具有高起的源极/漏极的金属氧化物半导体场效应晶体管的制造方法,该方法至少包含:形成一沟槽于一基底的一有源区中;形成多个第一间隙壁在该沟槽的侧壁及其外缘;形成一栅介电层于暴露出的该基底上;形成一栅极于该沟槽上;进行第一导电型离子注入,以在所述多个第一间隙壁下方与该栅极外侧的该基底中形成源极/漏极;在该栅极的侧壁上形成一第二间隙壁;以及形成一硅化金属层于暴露出的该栅极与该基底的上表面。
地址 中国台湾