调试装置及调试方法

摘要

本发明提供一种调试装置及调试方法，适用于测试一处理器的调试口信号，其中，该调试装置包括一调试请求模块、一调试应答模块、一缓冲模块、一驱动模块及一显示模块；而该调试方法通过上述调试装置以达成，且该调试方法包括以下步骤：调试请求模块侦测是否存在调试请求；当侦测到调试请求时，会由调试应答模块侦测是否存在应答请求；当侦测到应答请求时，缓冲模块会对处理器的调试口信号进行缓冲处理，以获得输出结果并输出至驱动模块；驱动模块接收输出结果，并将其转换成驱动信号后输出至显示模块；显示模块接收驱动信号并根据驱动信号进行显示。利用本发明进行调试操作时，只需调试人员输入一个调试请求即可，简化了调试操作。

主权项

1.一种调试装置，适用于测试一中央处理器的调试口信号；其特征在于该调试装置包括：一调试请求模块，其用以侦测是否存在调试请求；一调试应答模块，耦合该调试请求模块并用以侦测是否存在应答请求；一缓冲模块，耦合该调试应答模块，其用以接收中央处理器的调试口信号并对其进行缓冲处理以获得输出结果；一驱动模块，耦合该缓冲模块，其用以接收输出结果并将其转换成驱动信号；一显示模块，耦合该驱动模块，其用以接收驱动信号并根据驱动信号进行显示。