发明名称 一种透射电镜中纳米线原位拉伸下力电性能测试装置
摘要 一种透射电镜中纳米线原位拉伸下力电性能测试装置,属于纳米材料性能原位检测领域。该实用新型设计通过压电陶瓷拉伸单元、微悬臂梁力学检测系统以及电学测量系统,对单根纳米线以及其它的一维纳米材料在透射电镜中实现原位拉伸,并在拉伸过程中实现可以利用透射电镜的成像系统,原位的获得纳米尺度甚至原子尺度上的变形信息,而且还可以实现弹性,塑性和断裂的力学性能定量测量,同时也可以对一维纳米材料进行电学性能测量,实现在拉伸过程中的电荷输运性能的研究。本实用新型结构简单,便于操作,应用范围广,具有直观性和定量检测的特性,便于解释和发现纳米材料优异的力学/电学等综合性能。
申请公布号 CN201066335Y 申请公布日期 2008.05.28
申请号 CN200720169809.2 申请日期 2007.07.20
申请人 北京工业大学 发明人 韩晓东;郑坤;张泽
分类号 G01N13/10(2006.01);G01N3/00(2006.01);G01N27/00(2006.01) 主分类号 G01N13/10(2006.01)
代理机构 北京思海天达知识产权代理有限公司 代理人 刘萍
主权项 1.一种透射电镜中纳米线原位拉伸下力电性能测试装置,其特征在于:将压电陶瓷片(2)放置于透射电镜样品杆的密封管(1)内,一端固定,压电陶瓷片(2)的固定端外接两根驱动导线(19),驱动导线(19)的另一端外接与驱动电源(20),压电陶瓷片(2)的另一端与放置于承载底座(4)的沟槽内的连动杆(5)相接,连动杆(5)的另一端与集成块(6)内的金属滑块(13)相接,承载底座(4)一端接于透射电镜样品杆的密封管(1),承载底座(4)的另一端接于集成块(6);所述集成块(6)的构造如下所述:长方体外壳(7)的开口端与承载底座(4)相接,其中长方体外壳(7)的顶部与底部均不封口,第一绝缘垫片(8)与第二绝缘垫片(9)水平放置于长方体外壳(7)内并与之相固定,其中第一绝缘垫片(8)与第二绝缘垫片(9)的中间保留一条30-50微米的缝隙,并使缝隙与长方体外壳(7)的开口端平行,第一绝缘垫片(8)放在靠近长方体外壳(7)的开口端,第二绝缘垫片(9)放在靠近长方体外壳(7)的封闭端,在第一绝缘垫片(8)之上平行固定一镀金属硅片(10),通过刻蚀法在金属硅片(10)靠近第二绝缘垫片(9)的一侧刻一条悬臂梁(11),并且使悬梁臂(11)也平行于长方体外壳(7)的开口端,在第二绝缘垫片(9)之上垂直于悬梁臂(11)的方向上固定一滑轨(12),在滑轨(12)之上安装金属滑块(13),将悬臂梁(11)与金属滑块(13)的上表面设置在同一水平面上,悬臂梁(11)与金属滑块(13)之间的缝隙宽度可通过微调旋钮(15)调整金属滑块(13)来改变,微调旋钮(15)安装在与长方体外壳(7)开口端相对的封闭端上。
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