发明名称 | 高压保真取样装置 | ||
摘要 | 本发明公开了一种高压保真取样装置,涉及一种取样装置。本发明是在压力中继容器(10)外壁包裹有温度调节器(20),在压力中继容器(10)的左右两端头分别连接有取样口(40)和传递口(30);传递口(30)和外部压力/流量控制设备(60)连接,取样口(40)和分析容器(70)连接,温度调节装置(20)通过电缆(50)和温度控制驱动器(80)连接;所述的压力中继装置(10)是在高压容器(11)内设置有中继薄膜(12),将高压容器(11)分隔为取样室(13)和压力/流量控制室(14)。本发明能精确控制取样速率和取样过程中温度、压力的变化,可广泛应用于各种现场和室内试验的取样分析中。 | ||
申请公布号 | CN101187602A | 申请公布日期 | 2008.05.28 |
申请号 | CN200710168334.X | 申请日期 | 2007.11.13 |
申请人 | 中国科学院武汉岩土力学研究所 | 发明人 | 魏宁;李小春 |
分类号 | G01N1/14(2006.01) | 主分类号 | G01N1/14(2006.01) |
代理机构 | 武汉宇晨专利事务所 | 代理人 | 黄瑞棠 |
主权项 | 1.一种高压保真取样装置,包括外围设备外部压力/流量控制设备(60)、分析容器(70)和温度控制驱动器(80);其特征在于:设置有压力中继容器(10)、温度调节器(20)、传递口(30)、取样口(40)和电缆(50);在压力中继容器(10)外壁包裹有温度调节器(20),在压力中继容器(10)的左右两端头分别连接有取样口(40)和传递口(30);传递口(30)和外部压力/流量控制设备(60)连接,取样口(40)和分析容器(70)连接,温度调节装置(20)通过电缆(50)和温度控制驱动器(80)连接。 | ||
地址 | 430071湖北省武汉市武昌小洪山 |