| 发明名称 | 磁盘驱动器的磁头磁极宽度测量方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种对磁盘驱动器的磁头磁极宽度进行测量的方法，其包括如下步骤：获取磁极表面的原始图像；计算原始图像的光强分布轮廓，确定轮廓的最大及最小光强数据点；将最大光强数据点与最小光强数据点的均值设定为阈值；对轮廓二次微分，从而获得二次微分渐近线；确定二次微分渐近线与阈值的交点；计算交点之间的距离，从而获得初次磁极宽度；对初次磁极宽度进行数据补偿，从而获得补偿后的磁极宽度。本发明方法也可以对其它微观物体的边缘之间的距离进行测量。 | ||
| 申请公布号 | CN101183531A | 申请公布日期 | 2008.05.21 |
| 申请号 | CN200610146479.5 | 申请日期 | 2006.11.13 |
| 申请人 | 新科实业有限公司 | 发明人 | 何娜;程新建;陈华俊;李宇 |
| 分类号 | G11B5/455(2006.01);G01B11/00(2006.01) | 主分类号 | G11B5/455(2006.01) |
| 代理机构 | 广州三环专利代理有限公司 | 代理人 | 郝传鑫 |
| 主权项 | 1.一种对磁盘驱动器的磁头磁极宽度进行测量的方法，包括如下步骤：(1)获取磁极表面的原始图像；(2)计算原始图像的光强分布轮廓，确定轮廓的最大及最小光强数据点；(3)将最大光强数据点与最小光强数据点的均值设定为阈值；(4)对轮廓二次微分，从而获得二次微分渐近线；(5)确定二次微分渐近线与阈值的交点；(6)计算交点之间的距离，从而获得初次磁极宽度；及(7)对初次磁极宽度进行数据补偿，从而获得补偿后的磁极宽度。 | ||
| 地址 | 中国香港新界沙田香港科学园科技大道东六号新科中心 | ||