发明名称 |
一种检测分集接收性能的方法和装置 |
摘要 |
本发明公开了一种检测分集接收性能的方法,包括:将信号源的第一发射功率信号至少分为两路径,第一路径信号模拟频率选择性衰落送给非分集通讯设备;第二路径信号模拟未发生衰落直接发送给非分集通讯设备,并检测出非分集通讯设备的信号接收质量值;将信号源的第二发射功率信号至少分为两路径,第一路径信号模拟频率选择性衰落发给分集通讯设备;第二路径信号模拟未发生衰落直接发给分集通讯设备,且分集通讯设备与非分集通讯设备的信号接收质量值相同;计算信号源的第一发射功率和第二发射功率的功率差值,得出分集增益。本发明还公开了一种检测分集接收性能的装置。本发明不仅可简便、快捷地检测分集接收性能,而且成本低廉,节能环保。 |
申请公布号 |
CN101183914A |
申请公布日期 |
2008.05.21 |
申请号 |
CN200610114534.2 |
申请日期 |
2006.11.14 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
刘卫刚;安飞;郭绪斌;卢忱;李成恩;杨明 |
分类号 |
H04L1/00(2006.01);H04L1/02(2006.01);H04B7/02(2006.01) |
主分类号 |
H04L1/00(2006.01) |
代理机构 |
北京律诚同业知识产权代理有限公司 |
代理人 |
梁挥;徐金国 |
主权项 |
1.一种检测分集接收性能的方法,其特征在于,包括以下步骤:A、由分路器将信号源以第一发射功率发来的信号至少分为两路径,第一路径的信号模拟频率选择性衰落,将信号通过选频衰减器、双工器发送给非分集通讯设备;第二路径的信号模拟未发生衰落,将信号直接发送给非分集通讯设备,并检测出所述非分集通讯设备的信号接收质量值;B、由分路器将信号源以第二发射功率发来的信号至少分为两路径,第一路径的信号模拟频率选择性衰落,该信号通过选频衰减器、双工器发送给分集通讯设备;第二路径的信号模拟未发生衰落,该信号直接发送给分集通讯设备,并检测出所述分集通讯设备的信号接收质量值与所述非分集通讯设备的信号接收质量值相同;C、计算所述信号源的第一发射功率和第二发射功率的功率差值,根据所述功率差值得出该分集通讯设备的分集增益。 |
地址 |
518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法律部 |