发明名称 一种平面显示器Mura瑕疵检测方法A MURA DEFECT DETECTION ALGORITHM FOR FLAT PANEL DISPLAYS
摘要 一种平面显示器(Flat Panel Displays)Mura瑕疵检测方法,输入欲检测之液晶显示器之原始影像后,利用二维离散余弦转换(2D DCT)对该原始影像进行影像转换,得到一离散余弦转换系数后,选取一截止频率,以该截止频率为界,消除高于该截止频率之离散余弦转换系数,并以二维离散余弦反转换(2D IDCT)将影像还原,以重建获得一背景影像,再将该原始影像减去该背景影像,以去除掉不均匀之背景亮度分布,获得一余値影像,并针对该余値影像进行二値化处理,以将瑕疵区域分割出来,并可进一步对该瑕疵区域做量化値分析,设定量化阀値,将量化値低于该量化阀値之区域视为可接受区域,并消除该可接受区域,而保留下来之瑕疵区域即为检出结果。
申请公布号 TW200821990 申请公布日期 2008.05.16
申请号 TW095140656 申请日期 2006.11.03
申请人 国立台北科技大学 发明人 陈亮嘉;郭家成
分类号 G06T7/00(2006.01);G02F1/13(2006.01) 主分类号 G06T7/00(2006.01)
代理机构 代理人 江舟峰
主权项
地址 台北市大安区忠孝东路3段1号