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对快闪记忆体装置设定编程启始偏压之方法与编程快闪记忆体装置之方法
摘要
提供一种对快闪记忆体装置设定编程启始偏压以执行编程操作之方法。首先,此方法使用一第一编程电压执行预编程以改变选择电晶体之门槛电压分布,并侦测该改变的门槛电压分布之最大门槛电压准位。此方法接着计算该侦测之最大门槛电压准位与目标最大门槛电压准位之间的差异,并设定一启始偏压至藉由将该计算之差异加上第一编程电压所得到之电压。
申请公布号
TW200822121
申请公布日期
2008.05.16
申请号
TW096126762
申请日期
2007.07.23
申请人
海力士半导体股份有限公司
发明人
金淑景
分类号
G11C16/04(2006.01)
主分类号
G11C16/04(2006.01)
代理机构
代理人
何金涂
主权项
地址
韩国
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